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ADI双光束分光光度计相关方案,你知道多少?

ADI_Amy 員工 在 2015-12-17 建立的討論區
最後回覆由cnhtzxb@163.com於2017-7-7提供

这是第二篇有关分光光度计应用的文章。在第一篇文章中——ADI双光束分光光度计解决方案(http://www.analog.com/media/cn/technical-documentation/apm-pdf/adi-dbs-solutions_cn.pdf),我们讨论了应用、工作原理、电路架构和设计考虑因素。本文将介绍ADI公司的相关新演示系统和产品。

 

下载ADI灵活全面的系统解决方案及主要产品简介请点击:http://www.analog.com/cn/design-center/landing-pages/002/apm/dbs-solution-2013.html#intro

 

 

系统设计考虑因素


稳定性

 

在分光光度计的设计中,随时间和温度的漂移是非常重要的考虑因素。为了实现这一目标,需要低漂移的精确信号链,这正是ADI公司的长处。除元件外,双光束架构同样也是重要的因素。

 

 

 

ADI公司新演示系统

 

CN-0363:带可编程增益跨阻放大器和数字同步检波功能的双通道色度计

 

下图所示电路是一款双通道色度计,其具有一个调制光源发射器,各通道上有可编程增益跨阻放大器,后接一个噪声非常低的24位Σ-Δ型模数转换器(ADC)。ADC的输出连接到一个标准FPGA夹层卡。FPGA从ADC获得采样数据,实现一个同步检波算法。通过使用调制光和数字同步检波而非恒流(直流)源,系统可有力地抑制非调制频率的噪声源,提供出色的精度。

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ADI公司新产品

 

ADA4350:带有ADC驱动器的FET输入模拟前端,适用于光电二极管应用中的电流检测

 

ADA4350是用于光电监测器或其它传感器的模拟前端,此传感器输出电流与检测的参数或电压输入成比例,系统要求用户在不同精密增益之间做出选择,从而使其动态范围达到最大。ADA4350集成了FET输入放大器、切换网络和ADC驱动器,所有功能均可通过串行外设接口(SPI)或-并行控制逻辑控制,这些所有功能均在一个IC中。FET输入放大器具有极低的电压噪声和电流噪声,极其适合各种光电检测器、传感器或精密数据采集系统。

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ADI公司解决方案

 

系统框图


下面是通用分光光度计的系统框图,其中包括简化光学系统、样本室和参比室、双通道信号调理电路、微控制器(集成ADC)、通信接口和电源管理。

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5. 基准电压源6. 多路复用器7. 开关8. 接口9. 电源管理
ADR4525/ADR3425/ADR291ADG704/ADG708/ADG1609ADG733/ADG1636ADM3251E

ADP2441/ADP2370/ADP160/

ADP7102/ADP7182


设计资源


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