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AD9361高低温循环测试时,中心频点出现偏重漂移

lierdd 在 2016-5-26 詢問的問題
最後回覆由Rocky2016於2016-6-13提供

使用AD9361进行LTE产品开发,在进行产品的高低温循环测试时,发现射频的中心频点出现严重漂移导致无线链路中断,详见附件图片(1795M正常.jpg 和 1795M异常.jpg,中心频点偏移大于1MHz)。

1795M正常.jpg

1795M正常.jpg

1795M异常.jpg(图中纵向一格约3MHz,图中中心频点至少偏移了1.4MHz)

1795M异常.jpg

在射频正常和异常时测试测试ADI芯片输入的19.2M 恒温晶振,19.2M晶振频率输出正常,频率偏差小于4Hz;

设备重新启动(重新进行ADI配置后),ADI输出的中心频点恢复正常;

实际测试,温度有低变高,中心频点正偏;温度有高变低,中心频点负偏

问题:在正常使用过程中,温度变化特别是温度快速变化;ADI的中心频点该如何试试矫正?

結果