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求助:5 MHz和10 MHz双频率下(非扫频)的复阻抗测量解决方案

宋华鲁 在 2016-6-29 詢問的問題
最後回覆由hpkamen於2016-7-4提供

大家好,最近在做材料的介电特性测量,需要自己做一款5 MHz和10 MHz双频率下(非扫频)的复阻抗测量,需要测量阻抗实部和阻抗虚部,可以确定是容性,请问有没有具体的设计方案?ADI公司关于LCR测量计的网页链接如下

http://www.analog.com/cn/applications/markets/instrumentation-and-measurement/electronic-test-measurement/measuring-l-c-… ,其中:ADI拥有业内最丰富的DDS信号源、测量用跨导放大器和低电阻开关产品组合,提供适合构建分立式高性能LCR测量计的全套元器件,可测量1 kHz到100 MHz以上的应用。 此外,ADI还提供一系列基于ARM Cortex™-M3的单芯片解决方案,集成高分辨率的ADC,适合多种手持式和便携式应用。

“一系列基于ARM Cortex™-M3的单芯片解决方案?”如何寻找?谢谢大家

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